|
|
窒化ガリウムテンプレート(SiC基板) |
|
|
III-V ナイトライド エピタキシャル 工程用基板 |
基板特性
|
パラメータ
|
値
|
|
GaN厚 (ミクロン)
|
0.2-0.6 |
|
基板
|
(0001) on axis 6H-SiC または
4H-SiC
|
|
直径 (インチ)
|
2 |
|
GaN表面
|
As grown |
|
FWHM of X-ray
w-scan rocking curve,
arcsec |
< 250 |
|
濃度
Nd – Na cm-3
|
1017 – 1018
|
|
用途
技術 その他 GaN層とSiC基板は電気的に導電性の材料です。 シリコンカーバイドはGaNのデバイスから非常に熱を効果的に放熱し、高出力のGaNデバイスにとって重要な役割をもちます。GaN/SiCウエハーはクリービングにより鏡面を呈しナイトライド系レーザーダイオードに使用することも可能です。 GaN層はお客様のSiC基板の上にも成長可能です。 |
|
|
|
Copyright (c) 1997-2005 by TDI, Inc. |